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Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
Springer Science & Business Media
Denis Flandre
,
Alexei N. Nazarov
,
Peter L.F. Hemment
gate
silicon
devices
temperature
voltage
layer
technology
figure
oxide
current
substrate
device
radiation
structures
insulator
mosfets
drain
sio2
electron
thickness
thermal
surface
buried
mosfet
transistors
generation
transistor
layers
semiconductor
substrates
effects
effect
cmos
electronics
shown
wafer
circuits
threshold
µm
observed
fabrication
annealing
noise
depleted
dose
induced
temperatures
diamond
range
operating
Année:
2005
Langue:
english
Fichier:
PDF, 14.63 MB
Vos balises:
0
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4.0
english, 2005
2
Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a
Springer Netherlands
Colin Johnston
,
Alison Crossley (auth.)
,
Denis Flandre
,
Alexei N. Nazarov
,
Peter L.F. Hemment (eds.)
gate
silicon
devices
temperature
voltage
layer
technology
figure
oxide
current
substrate
device
radiation
structures
mosfets
insulator
drain
sio2
electron
thickness
thermal
surface
buried
mosfet
transistors
generation
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layers
semiconductor
substrates
effects
effect
cmos
electronics
shown
wafer
circuits
threshold
µm
observed
fabrication
annealing
noise
depleted
dose
induced
temperatures
diamond
range
wafers
Année:
2005
Langue:
english
Fichier:
PDF, 18.19 MB
Vos balises:
0
/
0
english, 2005
3
Космическая электроника: научное издание : в 2 кн. Кн. 2
Белоус А. И.
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buc
wim
jia
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moxet
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mukpocxem
wia
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hanps
kpemhua
mpu
sram
3apsa
coctoahum
kpag
unibond
ckpbitom
ctpyktypax
kmot
kotopbie
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