Исследование полупроводниковых диодов
Шангин А. С.
Целью настоящей работы является исследование характеристик и параметров выпрямительных полупроводниковых диодов и изучение влияния температуры на их свойства.
В работе исследуются точечные и плоскостные германиевые и кремниевые выпрямительные диоды, снимаются прямые и обратные характеристики диодов, измеряется дифференциальное сопротивление диодов на различных участках вольт-амперной характеристики.
Пособие предназначено для студентов очной формы и заочной формы обучения, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» и «Электроника и наноэлектроника» (специальность «Электронные приборы и устройства») по дисциплине «Твердотельные устройства», «Твердотельные приборы» и «Твердотельные приборы и устройства», «Компоненты электронных схем».
В работе исследуются точечные и плоскостные германиевые и кремниевые выпрямительные диоды, снимаются прямые и обратные характеристики диодов, измеряется дифференциальное сопротивление диодов на различных участках вольт-амперной характеристики.
Пособие предназначено для студентов очной формы и заочной формы обучения, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» и «Электроника и наноэлектроника» (специальность «Электронные приборы и устройства») по дисциплине «Твердотельные устройства», «Твердотельные приборы» и «Твердотельные приборы и устройства», «Компоненты электронных схем».
Année:
2012
Editeur::
ТУСУР
Langue:
russian
ISBN 10:
5940746888
ISBN 13:
9785932080450
Fichier:
PDF, 302 KB
IPFS:
,
russian, 2012