Campagne de collecte 15 septembre 2024 – 1 octobre 2024 C'est quoi, la collecte de fonds?

Исследование поверхности материалов методом сканирующей...

  • Main
  • Physics
  • Исследование поверхности материалов...

Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2006. - 23 с.Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятиям по курсу «Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию автоэлектронной эмиссии из металлов и наноуглеродных материалов.Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», специальностям «Физика твердого тела», «Физика», «Медицинская физика», «Материалы и компоненты твердотельной электроники», «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы», «Микроэлектроника и твердотельная электроника», «Нанотехнологии в электронике».
Catégories:
Langue:
russian
Fichier:
PDF, 795 KB
IPFS:
CID , CID Blake2b
russian0
Lire en ligne
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué

Mots Clefs